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功能电路板老化试验

作者:小编 日期:2024-03-21 23:36:26 点击数:

  功能电路板老化试验使功能板在一个具有温度变化的热老化设备内,经受空气温度的变化,通过高温,低温,高低温变化以及电功率等综合作用,暴露功能板的缺陷,如焊接不佳,元件

  所有要老化的功能板需先进行目测,对于有明显缺陷的功能板,如有短路,断路,元器件安装错误,缺件等缺陷的功能板应予以剔除。

  (1)电功率老化设备应保证提供老化功能板所需要的电压和电流,并能提供可变化的输入信号,并可随时检测每块功能伴。

  (2)温度变化速率(由低温到高温或者由高温到低温的变化过程中的平均值)1±0.5℃/min。

  (8)连续重复7.2.3至7.2.7。直到规定的老化时间,并且按规定的老化时间对功能板进行一次测量和记录。

  机。主要针对于电工,电子产品,以及其元器件及材料在高温,低温综合环境下运输,使用时的适应性

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  ,同时还能改变电压的大小。由于变压器在使用过程中可能会受到环境温度的影响,所以需要对其进行高温

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  Kaiyun官网。源采用8只额定功率为40W的紫外荧光灯作发光源。紫外线荧光灯管,分布在机器的两侧,每侧各4只(有UVA-340和UVB-313

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